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Rayan Alassaad 電話: (972) 732-1001 ファックス: (972) 732-9218 電子メール: alassaad@slater-matsil.com
バイオグラフィー
ラヤンアラサード博士は、光計測学、画像および信号処理、顕微鏡法、光波散乱計測、光学機械設計、フォトニック結晶、回析光学素子、統計的データ解析、逆問題最適化技術、そしてコンピュータモデル化の分野に経験があります。電気通信、電子回路、システム、およびソフトウェアなど、様々な工学分野の特許訴訟において技術アドバイザーを務めてきました。
ラヤンは、テキサス大学ダラス校のNanoscale Integration Lab、およびOptical Instrumentation Labで研究員を務め、RCWA および FDTD を使った電磁モデリングのほか、半導体処理およびナノリソグラフィーにおける微小寸法計測、散乱場顕微鏡法、および表面プラズモン画像撮影法を取り扱いました。
ダラス大学に勤める前、ラヤンは同大学で電子回路実習、電子機器、および上級工業数学で構成される工学部の学部課程の教育助手を務めました。また数年にわたりコンピュータプログラマーとして BAB International 社にも勤めました。
学歴
ラヤンは、2006 年にテキサス大学ダラス校より電気工学博士号を取得しています。また、1998 年にレバノン・アメリカ大学よりコンピュータサイエンス理学士号、2003 年にテキサス州ダラス校より電気工学修士号を取得しました。
執筆
ラヤンの最近の執筆活動:
R.M. Al-Assaad, E.M. Drege, D. M. Byrne, Proc. SPIE 4692, pp. 17-28, 2002.
E.M. Drege, J.M. Al-Assaad, D. M. Byrne, Proc. SPIE 4689, pp. 151-162, 2002.
R. Al-Assaad and D. Byrne, Op. Soc. Am. A 24, pp. 326-338, 2007.
R. M. Al-Assaad, L. Tao and W. Hu, Proc. SPIE 6518, pp. 651839, 2007.
R. M. Alassaad, et. al., J. Vac. Sci. Technol. B, in print.
R. M. Alassaad, L. Tao, and W. Hu, J. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS, in print.
メンバーシップ
ライアンは、米国特許商標庁の前に練習することを認めている。
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