Ruojian Zhang
電話:(972) 732-1001
ファックス:(972) 732-9218
電子メール: zhang@slater-matsil.com

バイオグラフィー

ルオジアン チャンは認定弁理士で、工学分野での膨大なリサーチと実務経験を持ち合わせたユニークな存在です。大学院レベルの学位を持ち、母国の中国と米国の両方でマイクロ波テクノロジーや固体電子工学分野でのリサーチを行っています。また、固体電子工学分野では博士過程のリサーチも行っています。ルオジアンは、主にテレコミュニケーション、コンピュータ システム、ソフトウェア設計と開発の分野で、10 年以上の実践的なエンジニアリング経験があります。

起業したばかりのハイテク企業および Cisco Systems 社や Nortel Network 社などのハイテク大企業に対するルオジアンの優れた貢献は広く認識されています。クライアントの知的財産については、理論上からも戦略上からも、またクライアントのビジネスの目標に直接影響するという点からも価値あるものとして重視し、その保護にあらゆる手段を講じます。ルオジアンの母国語は中国北京語で、アジア系のクライアントおよびアジアでビジネスを行っている米国のクライアントの両方のニーズと要件を理解しています。

学歴

ルオジアンは、南京大学で 1987 年に中国の電気工学学士号を取得、1990 年にはマイクロ波および電磁界工学専攻で電子工学修士号を取得しました。また、1995 年サザン メソジスト大学で固体電子工学を専攻して修士号を取得しました。また、サザン メソジスト大学では固体電子工学の膨大なリサーチを行い、電気工学博士号候補者として筆記および口頭試験に合格しています。

会員

米国特許商標庁認定。

執筆

ルオジアンが執筆した多数の技術文書の一部です。

• Butler, C. and Zhang, R., l/f Noise and Electromigration in Multi-Layered VIA Structures, 39 Solid State Electronics 281 (1996).
• Zhang, R. and Butler, C., Detection of Via Electromigration in VLSI Circuit Metallizations by 1/f Noise Measurements, Six Quantum 1/f Noise and Other Low Frequency Fluctuations in Electronic Devices Symposium, p. 70 (1994).