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莱岩·阿拉萨德 (Rayan Alassaad)
电话：(972) 732-1001
传真：(972) 732-9218
电邮：alassaad@slater-matsil.com
简历
莱岩·阿拉萨德博士在光学测量、图像和信号处理、显微学、散射测量、光电机械设计、光子晶体、衍射光学、统计数据分析、反演问题优化技术和计算机建模领域拥有丰富的经验。他在多项工程领域（电信、电子电路、系统和软件等专业）的专利诉讼案中担任技术顾问。
莱岩作为研究员曾在美国德州大学达拉斯分校的纳米技术集成实验室及光学仪器实验室工作过。他还运用RCWA和FDTD进行电磁模拟，并在半导体制作和纳米光刻、散射场显微镜和表面等离子成像等技术领域采用关键尺寸计量方法。
在为达拉斯大学工作之前，莱岩曾担任该大学本科电气工程课程的助教，这些课程包括电子电路实验课、电子设备课和高等工程数学课。他还在国际公司担任过几年的计算机程序员。
教育
莱岩于2006年获得美国德州大学达拉斯分校的电气工程博士学位。在年获得黎巴嫩美国大学的计算机理学学士学位并于年获得德州大学达拉斯分校电气工程硕士学位。
出版物
莱岩最近发表的文章包括：R.M. Al-Assaad, E.M. Drege, D. M. Byrne, Proc. SPIE 4692，第17-28页，2002年、E.M. Drege, J.M. Al-Assaad, D. M. Byrne, Proc. SPIE 4689，第151-162页，2002年、R. Al-Assaad 和 D. Byrne, Op. Soc. Am. A 24，第326-338页，2007年、R. M. Al-Assaad, L. Tao 和W. Hu, Proc. SPIE 6518，第651839页，2007年、R. M. Alassaad 等人合著，J. Vac. Sci. Technol. B（在印刷中）、 R. M. Alassaad, L. Tao 和 W. Hu, J. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS（在印刷中）。
会员资格
Rayan 被承认美国专利和商标局注册的执业。
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