张若剑
电话：(972) 732-1001
传真：(972) 732-9218
电子邮箱：zhang@slater-matsil.com

个人简介

张若剑是一名注册专利代理人，拥有结合重要研究和实用工程学的独特经验。他已取得高级工程学位，在其出生国中国和美国从事微波技术和固态电子的研究，包括固态电子博士研究。若剑还拥有十多年的实用工程学经验，主要涉及电信、计算机系统和软件的设计和开发等方面。

若剑以其对高科技创业公司及成立已久的公司的杰出贡献而备受赞誉，例如思科系统和北电网络。他采取所有措施，珍视和保护客户的知识产权，包括其理论和战略性申请，以及其对客户业务目标的直接影响。若剑精通普通话，了解亚洲客户以及在亚洲开展业务的美国客户的需求和要求。

教育背景

若剑于 1987 年毕业于中国南京大学，取得电气工程理学学士学位，于 1990 年在同一所大学取得电气工程硕士学位，专业为微波和电磁场技术，并于 1995 年毕业于南卫理公会大学，取得固态电子专业的硕士学位。若剑还在南卫理公会大学进行固态电子的重大研究，他在该所大学通过电气工程学博士学位的书面和口头考试。

会员身份

若剑拥有美国专利及商标局的注册执业资格。

著作

若剑已发表许多技术论文，包括：

• Butler, C. and Zhang, R., l/f Noise and Electromigration in Multi-Layered VIA Structures, 39 Solid State Electronics 281 (1996).
• Zhang, R. and Butler, C., Detection of Via Electromigration in VLSI Circuit Metallizations by 1/f Noise Measurements, Six Quantum 1/f Noise and Other Low Frequency Fluctuations in Electronic Devices Symposium, p. 70 (1994).